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Semiconductor material and device characterization / 3rd ed
상세 프로파일
| 자료유형 | 단행본 |
|---|---|
| 서명/저자사항 | Semiconductor material and device characterization / Dieter K. Schroder. |
| 개인저자 | Schroder, Dieter K. |
| 판사항 | 3rd ed. |
| 발행사항 | [Piscataway, NJ] : IEEE Press ; Hoboken, N.J. : Wiley, 2006. |
| 형태사항 | xv, 779 p. : ill. ; 25 cm. |
| ISBN | 9780471739067 0471739065 |
| 일반주기 |
"Wiley-Interscience."
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| 서지주기 | Includes bibliographical references and index(p. 755-779). |
| 일반주제명 | Semiconductors. Semiconductors --Testing. |
| 분류기호 | 621.38152 |
| 언어 | 영어 |
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| No. | 등록번호 | 청구기호 | 소장위치 | 도서상태 | 반납예정일 | 예약 | 서비스 | 매체정보 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 1 | 1341527 | 621.38152 S381s3 c2 | 1층 대출·지정도서실 지정완료 | 지정도서/24시간대출 |
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| 2 | 1341526 | 621.38152 S381s3 | 3층 자료실 서가번호 304 | 대출가능 |
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